熱學(xué)分析儀器專(zhuān)業(yè)制造商
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首頁(yè)-產(chǎn)品中心--平板導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀-液體導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀簡(jiǎn)要描述
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廠商性質(zhì)
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品牌 | 南京大展 | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬(wàn)-5萬(wàn) |
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外形尺寸(L×W×H) | 440*390*220mm | 精確度 | ±3% |
儀器種類(lèi) | 瞬態(tài)平面熱源法 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
重復(fù)性 | ≤3% | 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍 | 0.0001—300W/m·k |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,電子,紡織皮革,綜合 |
產(chǎn)品介紹:
DZDR-S是南京大展檢測(cè)儀器生產(chǎn)一款瞬態(tài)熱源法導(dǎo)熱儀,采用全新的外形設(shè)計(jì),簡(jiǎn)約小巧,配備天平,具有測(cè)量速度快,操作簡(jiǎn)單,應(yīng)用范圍廣等優(yōu)勢(shì)。
測(cè)試方法:
瞬態(tài)平面熱源技術(shù)(TPS)開(kāi)發(fā)的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀,可用于各種不同類(lèi)型、不同形態(tài)材料的熱傳導(dǎo)性能的測(cè)試。瞬態(tài)平面熱源法是研究熱傳導(dǎo)性能方法中新型的一種,它使測(cè)量技術(shù)達(dá)到了一個(gè)新的水平。在研究材料時(shí)能夠快速準(zhǔn)確的測(cè)量導(dǎo)熱系數(shù),為企業(yè)質(zhì)量監(jiān)控、材料生產(chǎn)以及實(shí)驗(yàn)室研究提供了極大的方便,可以選配有粉末測(cè)試容器、液體杯。
性能特點(diǎn):
1.直接測(cè)量,測(cè)試時(shí)間5-160s左右可設(shè)置,能快速準(zhǔn)確的測(cè)出導(dǎo)熱系數(shù),節(jié)約了大量的時(shí)間;
2.不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響;
3.無(wú)須特別的樣品制備,對(duì)樣品形狀并無(wú)特殊要求,塊狀固體只需相對(duì)平滑的樣品表面并且滿足長(zhǎng)寬至少為探頭直徑的兩倍即可;
4.對(duì)樣品實(shí)行無(wú)損檢測(cè),意味著樣品可以重復(fù)使用;
5.探頭采用雙螺旋線的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì),結(jié)合專(zhuān)屬數(shù)學(xué)模型,利用核心算法對(duì)探頭上采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算;
6.樣品臺(tái)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)巧妙,操作方便,適合放置不同厚度的樣品,同時(shí)簡(jiǎn)潔美觀;
7.探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了進(jìn)口的數(shù)據(jù)采集芯片,該芯片的高分辨率,能使測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠;
8.主機(jī)的控制系統(tǒng)使用了ARM微處理器,運(yùn)算速度比傳統(tǒng)的微處理器快,提高了系統(tǒng)的分析處理能力,計(jì)算結(jié)果更加準(zhǔn)確;
9.儀器可用于塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等熱物性參數(shù)的測(cè)定。
技術(shù)參數(shù):
測(cè)試范圍 | 0.0001—300W/(m*K) |
測(cè)量溫度范圍 | 室溫—130℃ |
探頭直徑 | 一號(hào)探頭7.5mm;二號(hào)探頭15mm; 三號(hào)探頭50mm |
精度 | ±3% |
重復(fù)性誤差 | ≤3% |
測(cè)量時(shí)間 | 5~160秒 |
電源 | AC 220V |
整機(jī)功率 | <500w |
測(cè)試樣品功率P | 一號(hào)探頭功率0;二號(hào)探頭功率0 |
樣品規(guī)格 | 一號(hào)探頭所測(cè)樣品(≥15*15*3.75mm) 二號(hào)探頭所測(cè)樣品 (≥30*30*7.5mm) 三號(hào)探頭所測(cè)樣品 (≥50*50*7.5mm) (選配,也可以定制其他規(guī)格) |
定制粉末測(cè)試容器一套 |
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